Leica DM3 XL徕卡全手动正置材料显微镜，是特别适合微电子和半导体检测快速检测的检验系统。在微电子和半导体的检验、过程控制或缺陷和故障分析中，要求检测速度必须够快，才能满足快速做出反应的要求。DM3 XL显微镜充分利用特有的宏观物镜视场宽敞30%，快速扫描大到6"样品组件，检验系统凭借大视场能快速识别缺陷，提高工作效率。同时DM3 XL检验系统为中等预算用户提供了高品质，是微电子和半导体理想的检验系统。